比表面积及介孔（中孔）微孔分析仪是金埃谱科技的主营产品，分为F-Sorb X400系列比表面积分析仪和V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪两个系列。另外金埃谱科技在2012年新推出了高温高压气体吸附仪储氢性能分析测试仪器及真密度测试仪。金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中现金注册资本规模最大,唯一通过ISO9001质量认证的生产型企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧! 
比表面积仪又称为比表面积分析仪，比表面积测定仪，比表面积测试仪，比表面积测量仪，比表面仪及BET比表面积仪，氮吸附比表面积仪，低温氮吸附仪等，金埃谱比表面积仪分为2站式比表面积仪及4站式比表面积仪，均为全自动比表面积仪。带孔径分析的称为比表面积及孔径分析仪或者称为比表面积孔隙度分析仪，比表面积孔结构分析仪，比表面积孔径分析仪，比表面积介孔分析仪，比表面积微孔分析仪，比表面积中孔分析仪，平均孔径分析仪，孔径分布测试仪，等温线测定仪，介孔微孔分布测定仪等。
F-Sorb X400系列比表面积分析仪是基于流动色谱法（俗称动态法）原理开发的。具有测试准确，速度快，能适应粉尘车间恶劣环境等优点。流动色谱法采用氦气做载气，通过改变氮气氦气的流量比例实现氮气分压的调节。F-Sorb X400系列比表面积分析仪是常压操作，无需抽真空，无需进行体积标定，同时进行4路样品分析，因此具有测试速度快的特点。F-Sorb X400系列比表面积分析仪除了具有BET多点比表面积测试功能外，同时具有直接对比法和单点BET功能。因此F-Sorb X400系列比表面积分析仪是电池材料（如：磷酸铁锂，锰酸锂，钴酸锂，三元材料，石墨，碱性材料等），纳米材料（如：纳米氧化铝，纳米二氧化硅，纳米氧化钛，纳米氧化镁，纳米氧化钙，纳米氧化钡，纳米氧化锆，钛白粉等），金属及金属氧化物（如：铁粉，铜粉，四氧化三铁，氧化铜，铁氧化物等）及塑料补强剂（如：白炭黑，炭黑，白碳黑，碳黑等）等材料比表面积生产监控的最佳选择。
金埃谱科技是北京市高新技术企业,总部位于我国著名的高校云集,中科院研究院所汇聚的北京高新技术产业区-中关村.公司起源和服务于中国兵器系统行业,依托当地人才资源和兵器系统技术优势,致力于科学分析仪器的研发,生产及销售.以创立兵器和民用行业国有知名品牌为发展宗旨,通过与兵器系统密切合作,同时借鉴国外先进技术,研发具有自主知识产权的自动化及智能化检测仪器,为我国科研单位及生产企业提供与国际产品接轨,高可靠性,高性价比的一流科研设备.
 V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪是基于静态容量法的基本原理开发的物理吸附仪，氮气作为常用的吸附气体，故静态容量法比表面积及孔径分析仪又称为氮吸附仪或者氮吸附比表面积仪。V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪较F-Sorb X400系列比表面积分析仪的相对测量原理相比较，V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪以气体状态方程PV=nRT为计算公式，以绝对测量的方式得到气体吸附量，用于计算材料的比表面积及孔径数据。采用绝对测量的原理是的V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪具有测试准确度高，测试范围广等优点。对于测试样品种类繁多的检测机构及对测试结果要求精准高的科研机构、高校或者企业研发部门，V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪是您的最佳选择。
V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪可以得到的完整的吸脱附氮吸附等温线，且根据等温线可以得到多点BET比表面积值，单点BET比表面积值，中孔孔径分布及孔容（包括中孔中值孔径，平均孔径，孔径分布，不同孔径区间孔容积贡献率等），微孔孔径分布（包括微孔孔径分布，中值孔径，微孔孔容，微孔面积等）等实验数据。同时可以根据吸脱附等温线的滞后环推测材料的孔结构及一系列样品的孔结构差异，同XRD衍射结果及扫描电镜结果相互佐证，定性样品的结构。V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪为您在材料分析方面提供必要的孔结构、孔体积、孔隙率及孔分布的表征结果。
V-SorbX800 Series系列比表面积及孔径分析仪广泛应用于分子筛（微孔分子筛：3A分子筛，4A分子筛，5A分子筛，13X分子筛及Y型分子筛；介孔分子筛：ZSM-5分子筛，SBA-15分子筛等），纳米材料，介孔催化剂材料，微孔活性炭，硅胶填料，交换树脂，化工填料等材料的氮吸附等温线测定，比表面积测定，总孔容积测定，平均孔径，孔径分布中值孔径，最可几孔径等参数的测定。

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